SEM锡球颗粒标样

SEM锡球颗粒标样20nm-400nm，低加速电压分辨率标样

销售价

货品编号：AGS1988

品牌：Agar Scientific

标样样品台:

12.5mm钉形样品台

10mmJEOL样品台

Hitachi M4样品台

不带样品台

有现货

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商品介绍

商品评价

【产品详情】

此为碳基底锡球标样，其中锡球的颗粒尺寸分布范围为＜20nm - 400nm，尺寸较大，更易于在低电压扫描模式下及金颗粒标样不适用的情况下使用，锡球颗粒比金颗粒更适合于检测背散射电子分辨率。

【规格详情】

标样	粒径分布
锡球颗粒标样	20nm-400nm

备注：1.为避免污染测试和校准样品，建议将其存放在真空或干燥无尘环境。

2.为确保产品质量及外观完整性，避免标样污染或表面划痕的产生，请勿直接触摸或擦拭产品表面。任何不当接触均可能导致不可逆的损伤，影响产品性能。

【温馨提示】

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